用於線上檢測的電腦視覺和 AI
為了偵測細微缺陷及減少廢料,Intel IT 正在部署 Intel® 硬體與軟體解決方案。
針對 Intel 組裝和測試工廠,Intel IT 運用電腦視覺和 AI 執行線上檢測。
Intel IT 的主要職責之一,便是確保 Intel 全球工廠網路維持高效運作。在過去十年間,我們推出眾多自動化人工智慧(AI)技術解決方案,不僅大幅減少浪費,更能提升產品品質。近期,我們新增一項使用電腦視覺(CV)和機器學習的新功能,可在組裝和測試過程中執行線上檢測。相較於離線檢測,線上檢測能夠更快找出缺陷與工具問題。此外,我們的解決方案智慧晶圓視覺檢測(IWVI)能夠輕鬆偵測任何缺陷,無論是使用顯微鏡也難以察覺的細微缺陷,或是製程完成後幾乎無法發現的缺陷。
該解決方案運用研磨工具執行晶圓薄化製程,並安裝保護性聚酯膜,同時以高解析度攝影機每秒拍攝多張影像。邊緣機器學習模型會分析這些影像。如果偵測到缺陷,該解決方案會發出警報,甚至停止執行工具。
該解決方案包括 Intel® Core™ i9 處理器、Intel® Xeon® 可擴展處理器和 Intel® ARC A770 獨立 GPU,現已部署至所有 Intel 組裝和測試工廠。
IWVI 解決方案無疑是關鍵解決方案,有助於確保 Intel 未來工廠新一代產品的品質與可靠性。該解決方案採用標準化設計,可實現快速部署並輕鬆擴展至新使用案例。PoC 證明該解決方案可精準識別晶圓薄化製程的各種缺陷類型,包括壓痕、各種尺寸的刮痕、磨痕、污漬、裂痕、氣泡、晶圓移位和安裝移位。
據 PoC 顯示,相較於離線檢測,線上檢測能更迅速偵測出高達 50% 的晶圓薄化問題。當 IWVI 發出警報時,工廠可針對晶圓重新加工,從而避免下游製程中整個晶圓分層。更重要的是,該解決方案超越了離線量測所能實現的範疇:
• 即時偵測任何偏移。
• 偵測製程缺陷並迅速關閉工具。
• 啟用檢測晶圓框架清潔度和內環的新功能。
透過 IWVI 解決方案,我們實現了多項業務優勢:
• 減少廢料,每年可為 Intel 節省高達 200 萬美元。
• 降低業務風險。
• 提升產品品質。
• 協助工程師擺脫繁瑣的手動離線檢測流程。
我們預期這項解決方案最終會擴展至其他製程,也迫不及待與其他製造商分享成功的果實,從而將該技術應用於更多不同使用案例。