文章 ID: 000077038 內容類型: 疑難排解 最近查看日期: 2012 年 09 月 11 日

FLEX 10K® 和 FLEX® 10KA 裝置的開放式排空功能,是否會導致裝置輸出在聯合測試動作組 (JTAG) EXTEST 運作期間無法高磁片磁碟機?

環境

BUILT IN - ARTICLE INTRO SECOND COMPONENT
描述 使用 FLEX 10K 和 FLEX 10KA 裝置時,開排式針腳可能會導致輸出不會高開。

FLEX 10K 和 FLEX 10KA 裝置提供選用的開放式排出功能,讓設計師可以根據針腳選擇開排作業。

JTAG IEEE Std. 1149.1 規定在測試模式期間,裝置針腳特性(即輸入或輸出針腳的類型、開泄、電壓等級)必須至少提供使用者模式期間可用的功能。符合 JTAG 規格的 FLEX 10K 與 FLEX 10KA 裝置,在使用者模式與測試模式之間提供相同的針腳操作。因此,當這些裝置設定為具有部分輸出針腳的設計,並啟用開排式功能時,這些針腳也會在 EXTEST 期間具有這種開放式排泄配置。

使用開放式輸出需要設計師使用拉起電阻器,以確保正確的訊號等級。對於符合 JTAG 規範、輸出開放輸出的裝置,此要求同時適用于使用者模式和 EXTEST 操作。FLEX 10K 和 FLEX 10KA 裝置讓使用者只要以不同的設計重新配置裝置,就能變更這種開放式輸出選擇。因此,訊號測試取決於目前設定在裝置中的使用者功能。

EXTEST 期間,未配置的 FLEX 10K 和 FLEX 10KA 裝置的 I/O 針腳磁片磁碟機沒有開脫特性。因此,在測試具有開放式輸出的設計時,EXTEST 操作在裝置配置前後將會有所不同。

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