重大問題
此問題影響到 DDR2、DDR3、LPDDR2、RLDRAM II、RLDRAM 3,以及 QDR II 產品。
在 13.0 版和之前的版本中,存在很小的可能性
該校準可能會進入無盡的迴圈,但無法完成,
遵循重複的 global_reset_n
擷斷或 soft_reset_n
。
這是不太可能的故障。一般實例
故障的標記為一個設計,其行為通常直到重複
擷取 global_reset_n
或 soft_reset_n
,
之後就會變得無回應。EMIF 除錯工具組無法連接
對無回應的設計。重新程式設計 SRAM 物件檔案 (.sof) 還原
回應設計。
如果您遇到下列任何更常見的校準 故障,它們很可能 無法 歸因於 此問題:
- 校準從未成功完成
- 校正利潤較小,偶爾也會校正 失敗
- 設計通過校準,但偶爾會發生資料錯誤 執行設計時
- 據報校正已成功完成,但 設計無法運作
如果您認為遇到這樣的失敗,或是更多 資訊,請參閱下列知識庫解決方案: rd05212013_358
此問題已在 12.1sp1dp6 和 13.0dp1 版本中修復, 在所有後續版本中。